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数字IC前端后端的区别?
数字字IC就是传递、加工、处理数字信号的IC,是近年来应用广、发展快的IC品种,可分为通用数字IC和专用数字IC。
数字前端以设计架构为起点,以生成可以布局布线的网表为终点;是用设计的电路实现想法;尺寸缩小有其物理限制不过,制程并不能无限制的缩小,当我们将晶体管缩小到20奈米左右时,就会遇到量子物理中的问题,让晶体管有漏电的现象,抵销缩小L时获得的效益。主要包括:基本的RTL编程和,前端设计还可以包括IC系统设计、验证(verification)、综合、STA、逻辑等值验证 (e check)。其中IC系统设计难掌握,它需要多年的IC设计经验和熟悉那个应用领域,就像软件行业的系统架构设计一样,而RTL编程和软件编程相当。
数字后端以布局布线为起点,以生成可以可以送交foundry进行流片的GDS2文件为终点;150℃1000小时测试通过保证使用8年,2000小时保证使用28年。是将设计的电路制造出来,在工艺上实现想法。主要包括:后端设计简单说是P&R,像芯片封装和管脚设计,floorplan,电源布线和功率验证,线间干扰的预防和修 正,时序收敛,自动布局布线、STA,DRC,LVS等,要求掌握和熟悉多种EDA工具以及IC生产厂家的具体要求。
数字IC设计工程师要具备哪些技能
学习“数字集成电路基础”是一切的开始,可以说是进入数字集成电路门槛的步。CMOS制造工艺是我们了解芯片的节课,从生产过程(宏观)学习芯片是怎么来的,这一步,可以激发学习的兴趣,产生学习的动力。
接下来,从微观角度来学习半导体器件物理,了解二极管的工作原理。进而学习场效应管的工作原理,这将是我们搭电路的积木。
导线是什么?这是一个有趣的话题,电阻、电容、电感的相互作用,产生和干扰,也是数字电路要解决的重要问题。
门电路是半定制数字集成电路的积木(Stardard Cell),所有的逻辑都将通过它们的实现。
存储器及其控制器,本质上属于数模混合电路。但由于计算机等复杂系统中存储器的日新月异,存储器的控制器由逻辑层(数字)和物理层(模拟)一起实现。
FPGA是可编程门阵列,就是提前生产好的ASIC芯片,可以改配置文件,来实现不同的功能。常常用于芯片Tapeout前的功能验证,或者用于基于FPGA的系统产品(非ASIC实现方案,快速推向市场)。
可测试性设计(即Design For Test),通常用来检测和调试生产过程中的良率问题。封装和测试是芯片交给客户的后一步。似乎这些与狭义的数字电路设计不相关,但这恰恰公司降低成本的秘诀。
后,还需要了解数字电路与模拟电路的本质区别,这将会帮助我们融汇贯通所学的知识。
数字IC应用验证方真技术研究
应用验证是指导IC元器件在系统中的可靠应用的关键,重点要关注应用系统对器件接口信号的影响,因此无论是采用纯软件还是软硬件协同的方式进行应用验证都需要先完成应用系统的PCB工作。质量()和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命,好的品质,长久的耐力往往就是一颗IC产品的竞争力所在。本文提出的应用验证技术方案以基IBIS模型在多个平台进行PCB SI(Signal Integrity)的方式提取出所需的数据,实现对系统应用环境的模拟;在此基础上通过软件和软硬件协同两种方法来实现数字IC器件的应用验证。为保证应用验证的顺利进行,对方案中涉及到的IBIS建模、PCB SI和S参数的提取及等技术进行了研究。
提出的应用验证技术方案的指导下,以SRAM的应用验证为例进行了相关的技术探索。1奈米,在10奈米的情况下,一条线只有不到100颗原子,在制作上相当困难,而且只要有一个原子的缺陷,像是在制作过程中有原子掉出或是有杂质,就会产生不的现象,影响产品的良率。首先对IBIS模型建模技术进行了深入研究,并完成了SRAM以及80C32等相关IC器件的IBIS模型建模工作;接着基于IBIS模型进行PCB SI,模拟了SRAM的板级应用环境并提取了应用验证所需的数据;后分别对适用于SRAM的软件平台和软硬件协同平台进行了相关设计,并完成了SRAM的应用验证。通过对SRAM的应用验证,证明了本文所提出的应用验证技术方案的可行性。
数字IC测试仪的研究
随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的测试技术已成为集成电路产业发展重要支撑之一,也是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。接着就是检查程序功能的正确性并持续修改,直到它满足期望的功能为止。目前,集成电路测试仪一般价格比较高,但在电子实验室的实验中经常需要测试中、小规模数字IC好坏,数字集成电路的测试又是一项经常性的工作,所以,自己设计一台经济实用的集成电路测试仪是非常必要的。
研究了国内外集成电路测试技术,提出了基于单片机系统的数字IC测试仪的设计,设计包括硬件系统设计和软件系统设计。的重点是硬件系统电路设计。后,还需要了解数字电路与模拟电路的本质区别,这将会帮助我们融汇贯通所学的知识。设计包括AT89C52单片机的选择,可编程I/O接口,电源系统、键盘、复位电路,LED显示接口CH451,计算机与单片机串行通信接口MAX232,测试插座接口,上位计算机等。硬件系统各功能单元电路的设计全部采用模块化,每部分电路的选择都经过比较和优化设计,便于以后硬件的升级。 针对单片机电源电路带负载能力的扩流和测试插座接口电路的设计及数字IC测试向量编码方法等方面进行了改进,提高了硬件系统的可靠性,简化了软件编程,并借助EDA技术进行了验证。
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